Вячеслав Медведев: УФ-нанолитография и современная электроника
Вячеслав Медведев: УФ-нанолитография и современная электроника
Обсуждаются фундаментальные аспекты и перспективы использования электромагнитного излучения в диапазоне длин волн ~ 1–10 нм. Переход к использованию коротковолнового излучения востребован оптическими технологиями, требующими высокого пространственного разрешения (микроскопия и томография живых клеток, фотолитография). Кроме того, фундаментальные исследования процессов в солнечной короне ведутся с помощью спектрального приборов работающих в этом спектральном диапазоне.
Лекция кандидат физико-математических наук, старший научный сотрудник Института спектроскопии РАН, генеральный директор «РнД-М» Вячеслава Валерьевича Медведева была прочитана в рамках IV Троицкой школы повышения квалификации преподавателей физики «Актуальные проблемы физики и астрономии: Интеграция науки и образования» (28 октября 2020 г., Троицк).
Лекция кандидат физико-математических наук, старший научный сотрудник Института спектроскопии РАН, генеральный директор «РнД-М» Вячеслава Валерьевича Медведева была прочитана в рамках IV Троицкой школы повышения квалификации преподавателей физики «Актуальные проблемы физики и астрономии: Интеграция науки и образования» (28 октября 2020 г., Троицк).
Место проведения Видеолекция