Научные интересы

Элементная база микроэлектроники, наноэлектроники. 

Материалы для микро- и наноэлектроники. 

Нано- и микросистемная техника. 

Твердотельная электроника. 

Структурные исследования конденсированных сред. 

Физика полупроводников и диэлектриков. 

Элементная база для перспективных информационно-вычислительных систем, работающих на новых физических принципах. 

Промышленная технология. 

Тeхнологии и методы, повышающие быстродействие и увеличивающие степень интеграции в микро- и наноэлектронике. 

Энергоэффективная элементная база микро- и наноэлектроники на основе одномерных и двумерных структур для логических схем, датчиков физических величин нового поколения и источников сигналов. 

Нанотехнологии, наносистемы, наноматериалы, нанодиагностика, наноэлектроника и нанофотоника.

Физика поверхности, границ раздела. 

Физическое материаловедение и физика дефектов. 

Моделирование в задачах создания промышленных производств робототехники и вычислительной техники. 

Акустоэлектроника. 

Технологии получения веществ высокой чистоты и продуктов с высокой добавленной стоимостью. 

Материалы с низкой диэлектрической постоянной для устройств электроники и фотоники. 

Вычислительные системы на основе органических и неорганических мемристоров. 

Интеллектуальные системы управления. 

Управление знаниями и системами междисциплинарной природы, человек в контуре управления. 

Новые материалы и структуры, нанотрубки, графены, другие наноматериалы. 

Диагностика материалов и элементов микро- и наноэлектроники. 

Надёжность элементной базы вычислительных систем. 

Обеспечение опережающей подготовки специалистов для передовых отраслей науки и высокотехнологичных секторов экономики.

Научные публикации

• Г.Я. Красников, Е.С. Горнев, И.В. Матюшкин, Общая теория технологий и микроэлектроника, Техносфера, М, 2020, 434 с.
• Ekaterina Kondratyuk, Yury Matveyev, Anastasia Chouprik, Evgeny Gornev, Maksim Zhuk, Roman Kirtaev, Anton Shadrin, Dmitrii Negrov, Automated Testing Algorithm for the Improvement of 1T1R ReRAM Endurance, IEEE Transactions on Electron Devices, Volume: 68, Issue: 10, Oct. 2021, Page(s): 4891 – 4896, DOI: 10.1109/TED.2021.3105089, The IEEE Social Media and Communications Toolkit for Authors
Aleksandra A. Koroleva, Anna G. Chernikova, Anastasia A. Chouprik, Evgeny S. Gornev, Aleksandr S. Slavich, Roman R. Khakimov, Evgeny V. Korostylev, Cheol Seong Hwang,* and Andrey M. Markeev. Impact of the Atomic Layer-Deposited Ru Electrode Surface Morphology on Resistive Switching Properties of TaOx‑Based Memory Structures, ACS Appl. Mater. Interfaces, https://doi.org/10.1021/acsami.0c14810
• Dmitry A. Zhevnenko, Evgeny S. Gornev, Sergey S. Vergeles, Tatyana V. Krishtop, Vladimir G. Krishtop. Modeling of Transferring Processes in the Planar Electrochemical Sensors, Advanced Materials Proceeding. 2019,Volume 4, №1 January – February, p. 26-29.
• Vladimir G. Krishtop, Dmitry A. Zhevnenko, Evgeny S. Gornev, Sergey S. Vergeles, Alexander S. Bygaev, Vladimir G. Popov, Pavel V. Dudkin, Sergey V. Kohanovsky, Tatyana V. Krishtop. Technology and application of electrochemical motion sensors, Advanced Materials Proceeding. 2019,Volume 4, №1 January – February, p. 03-09 doi:10.5185/amp.2019.1449
• Е. Горнев, Н. Зайцев, С. Орлов и др., Наноалмазографитовые автоэмиттеры для интегральных автоэмиссионных элементов, Наноиндустрия. – 2011, - № 5 (29), с. 36-39.
• Волк Ч.П., Горнев Е.С., Новиков Ю.А. и др., Измерение на растровых электронных микроскопах линейных размеров элементов микроструктур в широком диапазоне увеличений// Микроэлектроника. - 2004. - Т.33, N 6. - с. 419-428.
• Тодуа П.А., Быков В.А., Волк Ч.П., Горнев Е.С. и др., Метрологическое обеспечение измерений длины в микрометровом и нанометровом диапазонах и их внедрение в микроэлектронику и нанотехнологию // Микросистемная техника. 2004. № 1. с. 38–44; Микросистемная техника. 2004. № 2., с. 24–39; Микросистемная техника. 2004. № 3, с. 25–32.
• Горнев Е.С., Зайцев Н.А., Равилов М.Ф., Романов И.М., Моделирование элементов микромеханики Часть I, Микросистемная техника. 2002. № 10. с. 18-25. Часть II Микросистемная техника. 2002. № 11. с. 3-5.
• Волк Ч.П., Горнев Е.С., Новиков Ю.А. и др., Линейная мера микронного, субмикронного и нанометрового диапазонов для измерений размеров элементов СБИС на растровых электронных и атомно-силовых микроскопах // Микроэлектроника. 2002. Т. 31. № 4. с. 243–262.

Премии и награды

• Знак отличия «За наставничество», 2019 г.
• Премия Правительства РФ в области науки и техники, 2019 г.
• Премия Правительства РФ в области науки и техники, 2004 г.
• Государственная премия СССР в области науки и техники, 1986 г.
• Орден Дружбы народов, 1982 г.
• Медаль «За доблестный труд. В ознаменование 100-летия со дня рождения Владимира Ильича Ленина», 1970 г.