Журналы
Журналы
                                                              Д                                                                                                                                                                                                                     
                                                                                                                                                                       
                                              
                                                                                                                                                                              Дефектоскопия                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                          
                                                                                                      Учредитель                                                             
                                                                                                                                                                                       Главный редактор                                                             
                                                                                                                                                                                       ISSN Print                                                             
                                                                                                                                                                                                                                                                          0130-3082                                                                                                                                                                                                 
                                                                                                                          Описание                                                             
                                                             Журнал «Дефектоскопия» публикует работы в области физических основ современных методов и средств неразрушающего контроля и технической диагностики, а также новых методик и технических средств контроля изделий и объектов различного назначения, как в условиях производства, так и при эксплуатации.
                                                              Ф                                                                                                                                                                                                                     
                                                                                                                                                                       
                                      
                                                                                                                                                                              Физика и техника полупроводников                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                    
                                                                                                      Учредитель                                                             
                                                                                                                                                                                       Главный редактор                                                             
                                                                                                                                                                                       ISSN Print                                                             
                                                                                                                                                                                                                                                                          0015-3222                                                                                                                                                                                                 
                                                                                                                          Описание                                                             
                                                                                                                                                                                                                                                                          Журнал публикует статьи и краткие сообщения по следующим направлениям физики и техники полупроводников: аморфные полупроводники, микро- и наноструктуры, дефекты и примеси, легирование и имплантация, радиационные эффекты, эпитаксия и рост тонких пленок, зонная структура полупроводников, транспортные явления, эффекты туннелирования, прикладные аспекты материаловедения